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臺(tái)式XAFS不依賴于長(zhǎng)程有序結(jié)構(gòu),可用于非晶態(tài)材料的研究;不受其它元素干擾,可對(duì)同一材料中不同元素分別研究。
RapidXAFS HEX射線吸收譜儀是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具,廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域。
桌面XAFS測(cè)試對(duì)樣品無(wú)破壞,在大氣環(huán)境下測(cè)試,可進(jìn)行原位測(cè)試;不受樣品狀態(tài)影響,可測(cè)量固體(晶體、粉末),液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等。
桌面XAS測(cè)試是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具,廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域。
發(fā)射譜XES是一種重要的分析技術(shù),主要用于研究材料的電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)性質(zhì)。硬X射線具有較高的能量,能夠深入樣品內(nèi)部,使XES成為探測(cè)材料深層信息的強(qiáng)有力工具。