臺(tái)式X射線吸收譜儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

RapidXAFS 1M臺(tái)式X射線吸收譜儀是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域。

產(chǎn)品型號(hào)：RapidXAFS 1M

更新時(shí)間：2024-04-19

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

RapidXAFS

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核心優(yōu)勢(shì)

長(zhǎng)久以來，X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜(XAFS)只能在各個(gè)同步輻射光源上測(cè)試。由于光源機(jī)時(shí)有限，無法滿足眾多科研工作者的測(cè)試需求。而近些年，XAFS數(shù)據(jù)已成為了頂級(jí)期刊的“標(biāo)配"，致使越來越多課題組需要XAFS測(cè)試。秉持著讓XAFS走進(jìn)每個(gè)實(shí)驗(yàn)室的理念，中國科學(xué)院高能物理研究所和中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)聯(lián)合推出了全新的X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(RapidXAFS)。

RapidXAFS 1M臺(tái)式X射線吸收譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

多功能:	提供科研級(jí)高質(zhì)量XAFS圖譜
高性能:	1小時(shí)內(nèi)完成1%含量樣品測(cè)試
能量范圍:	4.5-15 keV，可擴(kuò)展至20 keV
高光通量:	>2,000,000 photons/sec@7~9 KeV
測(cè)試元素:	在實(shí)現(xiàn)3d,5d，稀土元素過渡金屬 XAFS 測(cè)試
簡(jiǎn)單易用:	只需半天培訓(xùn)即可上機(jī)操作
自主可控:	90%部件自主可控，無政策風(fēng)險(xiǎn)
低維護(hù)成本:	無需專人維護(hù)、操作、管理等

RapidXAFS具有如下特點(diǎn):

最高光通量產(chǎn)品

光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV，采譜效率數(shù)倍于其他產(chǎn)品；獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質(zhì)量

優(yōu)異的穩(wěn)定性

光源單色光強(qiáng)度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%，重復(fù)采集能量漂移<50 meV

1%探測(cè)極限

高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和較好的光源穩(wěn)定性確保所測(cè)元素含量>1%時(shí)依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數(shù)據(jù)

儀器原理

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域。

RapidXAFS 1M臺(tái)式X射線吸收譜儀主要有以下優(yōu)點(diǎn)：

1.不依賴于長(zhǎng)程有序結(jié)構(gòu)，可用于非晶態(tài)材料的研究；

2.不受其它元素干擾，可對(duì)同一材料中不同元素分別研究；

3.對(duì)樣品無破壞，在大氣環(huán)境下測(cè)試，可進(jìn)行原位測(cè)試；

4.不受樣品狀態(tài)影響，可測(cè)量固體(晶體、粉末)，液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等；

5.能獲得配位原子種類、配位數(shù)及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù)，原子間距精確度可達(dá)0.01A。

實(shí)驗(yàn)室單色儀XES測(cè)試幾何結(jié)構(gòu)

實(shí)驗(yàn)室單色儀XAFS測(cè)試幾何結(jié)構(gòu)

Mn數(shù)據(jù)，Mn K-edge XAFS數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)與同步輻射光源一致

清晰.jpg

Fe樣品Kβ發(fā)射譜數(shù)據(jù)：core to core XES 和 valence to core XES

XAFS譜主要包括兩部分:X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES)和擴(kuò)展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(EXAFS)。EXAFS的能量范圍大概在吸收邊后50 eV到1000 eV，來源于X射線激發(fā)出來的內(nèi)層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應(yīng)的結(jié)果。XANES包含了吸收邊前約10 eV至吸收邊后約50 eV的范圍，其主要來源于X射線激發(fā)出的內(nèi)殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應(yīng)。

測(cè)試數(shù)據(jù)

Foil EXAFS數(shù)據(jù)

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